Schnelle Elektrolumineszenz-Kameras inspizieren Solar Wafer

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Anwendungen im Solar-Bereich mit CMOS Sensoren

Pressemeldung der Firma RAUSCHER GmbH Systemberatung für Computer und angewandte Grafik

Der Einsatz von NIR-optimierten Kameras, insbesondere für Anwendungen im Solar-Bereich ist immer wieder ein Thema und war bisher nur mit vergleichsweise teuren CCD-Sensoren möglich. Durch die neue CMOS-Technologie ist eine erhöhte Empfindlichkeit der Sensoren im nahen Infrarotbereich durch das Aufbringen einer dickeren Substratschicht deutlich einfacher und kostengünstiger zu realisieren als mit der bisherigen CCD-Technologie. Die NIR-optimierten Basler ace Camera-Link Kameras acA2000-340kmNIR und acA2040-180kmNIR mit den NIR-optimierten CMOSIS Sensoren CMV2000 und CMV4000 liefern im Bereich von 850 nm noch eine Quanteneffizienz von rund 40%. Die NIR-optimierten ace Kameras mit GigE oder CL-Interface sind für die Inspektion von Solarwafern durch den Einsatz des Elektrolumineszenz Verfahren perfekt geeignet.

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