Formelemente praxisgerecht ermitteln

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Auf der 5. VDI/VDE-Fachtagung "Metrologie für die Mikro- und Nanotechnik" am 23. und 24. Oktober 2013 in Nürtingen befassen sich Experten mit aktuellen Verfahren, um Mikroformelemente zu messen

Pressemeldung der Firma VDI Wissensforum GmbH

Die Mikro- und Nanotechnologie findet in zahlreichen technischen Bereichen Anwendung. Die geringe Größe der Bauteile und Formelemente stellt eine Herausforderung für die Messtechnik dar. Mit ihrer Hilfe lassen sich die Teile charakterisieren und auswerten. Norm- und praxisgerechte Verfahren diskutieren Experten auf der 5. VDI/VDE-Fachtagung „Metrologie für die Mikro- und Nanotechnologie“ am 23. und 24. Oktober 2013 in Nürtingen. Fachlicher Leiter der Tagung ist Prof. Jörg Seewig von der TU Kaiserslautern.

Die Fachtagung gibt einen umfassenden Überblick, wie sich Rauheit und Mikroformelemente norm- und praxisgerecht unter Berücksichtigung aktueller technischer Regeln auswerten, charakterisieren und tolerieren lassen. Neben messtechnischen Verfahren wie der taktilen Profilometrie, Rastersondenmikroskopie, Interferometrie sowie der konfokalen Mikroskopie setzen sich die Fachleute mit Strategien zum robusten Messen von Mikroformelementen und Bauteilen mit kleinen Toleranzen auseinander. Darüber hinaus befassen sie sich mit neuen Filterverfahren, um Gestaltabweichungen zu trennen.

Im Themenbereich der dimensionellen Messtechnik bietet die Fachtagung anwendungsorientierte Tutorien, unter anderem, um Oberflächenrauheit normgerecht auszuwerten oder die laterale und vertikale Auflösung optischer Messeinrichtungen zu ermitteln. Die Experten setzen sich auch mit Anwendungen und Grenzen der Computertomografie auseinander.

Die Vortragenden kommen unter anderem von Daimler, Volkswagen, Werth Messtechnik, NanoFocus sowie der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB).

Die fachliche Trägerschaft der von der VDI Wissensforum GmbH ausgerichteten Veranstaltung liegt bei der VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA).

Anmeldung und Programm unter www.vdi.de/nanomesstechnik oder über das VDI Wissensforum Kundenzentrum, Postfach 10 11 39, 40002 Düsseldorf, E-Mail: wissensforum@vdi.de, Telefon: +49 211 6214-201, Telefax: -154.



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Dateianlagen:
    • Messmethoden für Mikroformelemente sind ein Thema auf der 5. VDI/VDE-Fachtagung "Metrologie für die Mikro- und Nanotechnik" am 23. und 24. Oktober 2013 (Bild: VDI Wissensforum GmbH/Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU))
Das VDI Wissensforum mit Sitz in Düsseldorf gehört zur Unternehmensgruppe des Vereins Deutscher Ingenieure (VDI) und ist seit mehr als 50 Jahren der führende Weiterbildungsspezialist für Ingenieure, für Fach- und Führungskräfte im technischen Umfeld. Es vermittelt das Wissen aus allen automobilrelevanten Technikdisziplinen und bietet eine umfassende Themenvielfalt rund um die Fahrzeugindustrie. Fragen zu aktuellen Antriebsaggregaten, zur Fahrzeugelektronik und Fahrerassistenzsystemen stehen im Fokus neben Themen wie Anforderungen zur Fahrzeugsicherheit, Komfortoptimierung oder auch Lösungen zur CO2-Reduktion und Nachhaltigkeit des Automobils. Das Unternehmen bietet eines der größten Automobilindustrie-Netzwerke mit weltmarktführenden Herstellern, Zulieferern und Dienstleistern sowie international renommierten Wissenschaftlern. Die Veranstaltungen des VDI Wissensforums sind unverzichtbar für die Automobilindustrie.


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